UV-PCD

UV-PCD 外延少子寿命

改进后的μ-PCD技术可测量外延层的少子寿命。

该技术可包含一个高强度的UV激光源,此激光源允许在外延层高注入情况下产生过量载流子。在很多最具创新性、富有经验的科学家和工程师的努力下,才产生了这种能够测量外延层少子寿命的高端技术。




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