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椭偏测试技术是一种超高精度的光学测试方法,被广泛运用到薄膜涂层、新型纳米结构的厚度和光学特性的测试中。具有测试精度高,测试速度快,非破坏性等诸多优点。


Semilab是一家专注于薄膜光学及电学测试的设备及服务提供商,致力于为科研机构和工业生产提供高精密的测试解决方案。在全光谱椭偏测试技术上,Semilab具有超过30年的设备研发及制造经验,目前我司的设备已经广泛应用于科研院所,半导体,太阳能及平板显示等各个领域。

来自于SOPRA的椭偏测试仪以其高精度的测量而在行业中众所周知,而Semilab通过对其自动化方面和关键测试技术的持续改进和创新,使椭偏测试设备趋于成熟。

Semilab的主要目标之一是通过为工业领域和学术机构提供最强大的光学测试解决方案而成为新材料研发领域的测试行业标杆。一直以来,公司对椭偏设备的硬件和软件进行了持续大量的投资。同时公司建有一个强大的应用实验室,为客户提供测试及应用上的支持。通过对SOPRA战略性的收购,Semilab获得了其基于各大学院所、科研机构及应用中心的强大应用数据库,并且已经为各微电子技术研发中心提供了大量椭偏设备。

现在,我们不仅提供用于薄膜测量的全光谱椭偏仪(SE)设备,也提供用于多孔薄膜特性测量的椭偏孔隙率(EP)设备(具有IMEC执照)。 Semilab还开发了可用于太阳能薄膜电池测量的单波长椭偏仪(LE)设备。我们的标准设备可以用于光学、新材料、半导体、平板显示、太阳能电池、有机材料和其他诸多领域的薄膜和新材料的测量。同时质量管理体系的开发和实施将使我们能为客户提供了满足其要求的产品和服务。



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