产品应用
WT-2000PVN 多功能扫描测试系统
(WT-2000PVN Mapping System)
产品描述
| Semilab
WT-2000PVN测试平台能够对单晶、多晶以及薄膜电池提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描、多点或单点测试。测试样品包括：硅棒、硅块、任何形状的硅片、工艺片以及成品电池片。 |
产品特点
| 独特的u-PCD探头有效地提高信噪比，微波频率可自动调节 |
| 激光波长可选，满足不同材料样品的测试需要 |
| 获得专利的表面钝化技术可以降低表面复合速率，以获得体寿命值 |
| 多功能扫描，一台设备可以测试硅片也可以测试硅棒 |
| 分辨率高，重复性好，为业界公认的测试标准 |
主要应用
| 微波光电导衰减法（u-PCD）测试少数载流子寿命 |
| 表面光电压法(SPV)测试扩散长度 |
| 涡流场法（Eddy
Current）测试体电阻率 |
| 表面光电压法（SPV）测试方块电阻 |
| 多波长光诱导电流（LBIC）测试 |
| 多波长反射率（Reflectance）测试 |
| 多波长内（外）量子效率（IQE/EQE)测试 |
| P型硅片铁含量（Fe-B）测试 |
| 可调光强的偏置光（Bias
Light）选项 |
| 四探针电阻率测试 |
| 硅片自动上下片系统 |
主要技术指标
技术关键词
应用关键词
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