WT-2000PVN 多功能扫描测试系统
(WT-2000PVN Mapping System)

产品描述

Semilab WT-2000PVN测试平台能够对单晶、多晶以及薄膜电池提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描、多点或单点测试。测试样品包括:硅棒、硅块、任何形状的硅片、工艺片以及成品电池片。


产品特点

独特的u-PCD探头有效地提高信噪比,微波频率可自动调节
激光波长可选,满足不同材料样品的测试需要
获得专利的表面钝化技术可以降低表面复合速率,以获得体寿命值
多功能扫描,一台设备可以测试硅片也可以测试硅棒
分辨率高,重复性好,为业界公认的测试标准

主要应用

微波光电导衰减法(u-PCD)测试少数载流子寿命
表面光电压法(SPV)测试扩散长度
涡流场法(Eddy Current)测试体电阻率
表面光电压法(SPV)测试方块电阻
多波长光诱导电流(LBIC)测试
多波长反射率(Reflectance)测试
多波长内(外)量子效率(IQE/EQE)测试
P型硅片铁含量(Fe-B)测试
可调光强的偏置光(Bias Light)选项
四探针电阻率测试
硅片自动上下片系统

主要技术指标

技术关键词

应用关键词



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