产品应用
WT-2000MCT 变温寿命测试系统
(WT-2000MCT Temperature Dependent Lifetime Measurements)
产品描述
WT-2000MCT是针对窄禁带半导体材料设计的温度寿命测试系统，可选择不同的测试模式，适用于多种窄禁带半导体材料。 |
产品特点
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主要应用
| 少数载流子复合寿命通常是温度的函数 |
| 窄禁带半导体在室温下其非平衡载流子处于热激发状态 |
可测样品: HgCdTe, InSb, GaAs, etc. |
主要技术指标
技术关键词
应用关键词
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