WT-2000MCT 变温寿命测试系统
(WT-2000MCT Temperature Dependent Lifetime Measurements)

产品描述

WT-2000MCT是针对窄禁带半导体材料设计的温度寿命测试系统,可选择不同的测试模式,适用于多种窄禁带半导体材料。



产品特点

操作模式:恒温整片扫描/单点温度扫描
变温范文:  80K - 325K

主要应用

少数载流子复合寿命通常是温度的函数
窄禁带半导体在室温下其非平衡载流子处于热激发状态

可测样品: HgCdTe, InSb, GaAs, etc.


主要技术指标


技术关键词

应用关键词



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