WT-1200B 单点硅片寿命测试仪
(Single Point Lifetime Tester from Ingot,Block)

产品描述

WT-1200B提供快速、无接触载流子复合寿命测试,可应用于从回炉料、头尾料等硅料到成品电池片各个生产环节的质量监控,是直拉单晶硅棒的少子寿命监控的标准测试设备。

产品特点

自动测试及数据拟合
测试区域可以根据需要灵活选择
适用于多晶及单晶样品
Semilab独享专利的钝化测试技术

主要应用

从硅料到成品电池片等工艺环节。

主要技术指标

电阻率范围:0.1 - 1000 Ωcm
测试光斑直径:1mm
寿命测试范围:100ns - 20ms
测试速度:0.5s/point

技术关键词

应用关键词



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