PN-100 PN型号测试笔采用表面光电压技术,能够快速、无损伤测定样品PN型号。 |
通常情况下,无论何种型号的半导体,表面都被自然氧化层覆盖,其表面处于耗尽状态。因此半导体材料的表面势垒的极性也表征了材料类型。表面势垒的极性可以通过一种非接触式表面光电压的测量方法测得。PN型号是由光照射产生的表面势垒的变化的极性推得的。 |
便携式,无接触PN型号测试笔 |
基于表面光电压法测试原理,注入深度为5μm |
无需样品预处理 |
任意形状样品PN型号测试 |
多晶硅提纯/铸锭,直达单晶,切片,电池片生产 |
可测量任意形状单多晶硅样品 |
电阻率范围: >20 m.ohm |
测试时间: 0.5s |
电池供电: 每节电池测试次数约10000次 |
基于表面光电压原理:注入深度 5μm |
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