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对于CELL部门，Semilab提供如下的测试解决方案
1. 利用光谱椭偏仪对PI薄膜膜厚测试
2. 针对PI薄膜的各向异性，提供以SE测试为基础的各向异性测试，得到PI薄膜的配向角和预倾角
3. 偏振法测试CELL Gap
©2009,Semilab.All rights reserved|
沪公网安备 31011502002770号 | 沪ICP备12039253号
对于CELL部门，Semilab提供如下的测试解决方案
1. 利用光谱椭偏仪对PI薄膜膜厚测试
2. 针对PI薄膜的各向异性，提供以SE测试为基础的各向异性测试，得到PI薄膜的配向角和预倾角
3. 偏振法测试CELL Gap
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