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对于CELL部门,Semilab提供如下的测试解决方案
1. 利用光谱椭偏仪对PI薄膜膜厚测试
2. 针对PI薄膜的各向异性,提供以SE测试为基础的各向异性测试,得到PI薄膜的配向角和预倾角
3. 偏振法测试CELL Gap
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