SEMILAB 瑟米莱伯贸易 (上海) 有限公司

• 首页
• 公司简介
• 半导体领域
  • 产品
    • 7300RC
    • Epimet-300
    • FAaST NSD
    • SSM 495 System
    • SSM 5130 & 530 Systems
    • SSM 5400 System
    • WT-2000
    • WT-2500
    • WT-3000
    • AMS-3300
    • FAaST 300-SL
    • EPA
    • FAaST COCOS / MC
    • FAaST SASS I-V
    • FAaST SDI C-V
    • IR-3100
    • Porosimeter Ellipsometers EP5, EP12 and EP20
    • SE5E
    • AMS-3300
    • BX- 30
    • FAaST PDM
    • ICT 300
    • SSM 6100 System
    • DLS-83
  • 应用
  • 测量技术
    • Epi Layer Resistivity
    • SurfaceWave™
    • Ellipsometric Porosimetry
    • Model-based infrared technology
• 太阳能领域
  • 产品
    • GES5-E 光谱型椭偏仪
    • WA-200 硅片自动测系统
    • SE5-PV 全自动光谱型椭偏仪
    • SRP-PV1 结深纵向浓度测试仪
    • IRB-30 红外探伤仪
    • SRH-1000 单点方块电阻测试仪
    • WT-1100 单点硅片载流子寿命测试仪
    • WT-1000B单点硅棒载流子寿命测试仪
    • WT-1000res单点硅片多功能测试仪
    • WT-2000PVN 硅片载流子寿命测试系统
    • WT-2000P 载流子寿命在线测试系统
    • WT-2000D 硅棒载流子寿命测试系统
    • PN-100 PN型号测试笔
    • RT-100 硅棒电阻率测试仪
    • RT-110 硅片电阻率测试仪
  • 测试方案
    • 多晶硅提纯
    • 多晶铸锭
    • 直拉单晶
    • 电池片生产
    • 薄膜电池
    • 切片
• 新闻
• 服务与支持
• 加入我们
• 联系我们
  • 电子邮件
  • 在线留言
  • 其他联系方式

Tag: