太阳能领域
| 工作区 | 测试项目 | 推荐型号 | 备选型号 | |
|---|---|---|---|---|
| 多晶硅提纯 | 出厂检测 | 少子寿命测试 | WT-2000D | WT-2000PVN WT-1000B |
| 多晶铸锭 | 回炉料分选 | 回炉料电阻率 回炉料PN型号 |
RT-100 PN-100 |
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| 硅块测试 | 硅块少子寿命扫描 | WT-2000D | WT-2000PVN WT-2000P |
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| 硅块电阻率 硅块PN型号 |
RT-100 PN-100 |
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| 红外探伤测试 | IRB-30 | |||
| 直拉单晶 | 回炉料分选 | 回炉料电阻率 回炉料PN型号 |
RT-100 PN-100 |
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| 硅棒测试 | 硅棒少子寿命测试 | WT-1000B | WT-2000PVN WT-2000D |
|
| 硅棒电阻率 硅棒PN型号 |
RT-100 PN-100 |
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| 电池片生产 | 硅片入厂检测 | 硅片厚度、电阻率、PN型号、TTV、翘曲 | WA-200 | RT-100 WT-1000RES |
| 扩散区 | 扩散片方块电阻测试 | SHR-1000 | WA-200 | |
| 扩散片少子寿命测试 | WT-1000 | WA-200 | ||
| 技术开发 | 多功能扫描测试 | 全配置 WT-2000PVN | ||
| 薄膜电池 | 薄膜质量控制 | 膜厚测试 | GES5-E | |
| 薄膜电阻率 方块电阻 |
Eddy Current JPV |
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| 薄膜的少子寿命 | Modified μ-PCD | SPV | ||