SEMILAB 瑟米莱伯贸易 (上海) 有限公司

SOPRALAB光谱型椭偏仪基于偏振光学技术，可在紫外-可见光-红外波段对晶体硅太阳能电池和薄膜电池的厚度、光学性质和电学性质进行可变角椭偏测量。

• 可自由选配快速CCD或高分辨率扫描模式测量
• 可自由选配深紫外，紫外-可见光，红外光谱测量
• 可选配X-Y-Z、ρ-θ扫描样品台，温控台，真空台
• 配置0.01度自动连续变角器
• 厚度测量范围：0.01nm-50um
• 测量精度：±0.01nm@120nm ref. sample
• 测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm(高分辨率扫描模式)
                                   ＜0.8nm@633nm (快速CCD模式)

• 可自由选配快速CCD或高分辨率扫描模式测量
  可自由选配深紫外，紫外-可见光，红外光谱测量
  可选配X-Y-Z、ρ-θ扫描样品台，温控台，真空台
  配置0.01度自动连续变角器
  厚度测量范围：0.01nm-50um
  测量精度：±0.01nm@120nm ref. sample
  测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm(高分辨率扫描模式)
                    ＜0.8nm@633nm (快速CCD模式)

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