WT-1000res单点硅片多功能测试仪
WT-1000RES 多功能单点硅片测试仪
- 单点硅片少子寿命、厚度和电阻率测试
- 提供快速、无接触、无损伤测试
- 硅片少子寿命测试范围：0.1us-20ms
- 硅片厚度测试范围：150um-1000um
- 硅片电阻率测试范围：0.3-15 Ωcm
- 全自动操作及数据处理
- 主要应用：
- 硅片进、出厂质量控制
- 电池工艺过程质量控制
WT-1000RES 多功能单点硅片测试仪
- 硅片进、出厂质量控制
- 电池工艺过程质量控制
© 2009, Semilab. All rights reserved. | ICP Shanghai 07012345