WT-1000B单点硅棒载流子寿命测试仪
WT-1000B 单点硅棒载流子寿命测试仪
WT-1000B 基于微波光电导衰减法的测试原理，提供单点、无损伤的重金属沾污测试，具有性价比高，使用方便的特点，测试结果能与WT-2000保持良好的一致。
- 单点移动探头测试，可测试样品包括：
- 多晶料、硅棒（锭）、硅片及电池片
- 全自动操作及数据处理
- 能够灵活测试硅锭、硅棒以判断头尾位置
- 测试范围：0.1us-20ms
- 主要应用：
- 材料的质量控制
- 硅棒的出厂、进厂检测
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WT-1000B 单点硅棒载流子寿命测试仪
WT-1000B 基于微波光电导衰减法的测试原理，提供单点、无损伤的重金属沾污测试，具有性价比高，使用方便的特点，测试结果能与WT-2000保持良好的一致。
- 多晶料、硅棒（锭）、硅片及电池片
- 材料的质量控制
- 硅棒的出厂、进厂检测
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