WT-1100 单点硅片载流子寿命测试仪
WT-1100 单点硅片载流子寿命测试仪
WT-1100 基于微波光电导衰减法的测试原理，提供单点、无损伤的重金属沾污检测，可具有性价比高，使用方便的特点，测试结果能与WT-2000保持良好的一致。
- 单点测试，可测试样品包括:
- 硅片、过程工艺片，以及成品电池
- 全自动操作及数据处理
- 对电池生产的各个工艺进行监控
- 测试范围：0.1us-30ms
- 主要应用：
- 材料质量控制
- 工艺过程质量控制
- 硅片出厂、进场检查
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WT-1100 单点硅片载流子寿命测试仪
WT-1100 基于微波光电导衰减法的测试原理，提供单点、无损伤的重金属沾污检测，可具有性价比高，使用方便的特点，测试结果能与WT-2000保持良好的一致。
- 硅片、过程工艺片，以及成品电池
- 材料质量控制
- 工艺过程质量控制
- 硅片出厂、进场检查
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