IRB-30 红外探伤仪
IRB-30 红外探伤仪是针对太阳能硅块，实现快速、无接触的缺陷检测。
- 检测的缺陷类型包括：
- 裂纹和空洞
- SiC杂质
- 微晶聚集结构
- 金属沉淀
- 可测硅棒尺寸：210mm * 210mm * 300mm
- 显示像素：<0.4 mm
- 位置精度：0.1 mm
- 集成自动拟合软件，并能自动测试样品四个侧面
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IRB-30 红外探伤仪是针对太阳能硅块，实现快速、无接触的缺陷检测。
- 裂纹和空洞
- SiC杂质
- 微晶聚集结构
- 金属沉淀
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