SEMILAB 瑟米莱伯贸易 (上海) 有限公司

SOPRALAB 全自动光谱型椭偏仪基于偏振光学技术，配合自动上片系统，可在紫外-可见光-红外波段对1245mm×635mm大尺寸薄膜电池的厚度、组份、光学性质和电学性质实现在线椭偏测量。

• 测试光斑最小至50um
• 支持表面自动测绘
• 测 试  速  度：≤ 1 sec
• 测 试  光  谱：190 nm - 2.5um
• 厚度测试范围：0.01nm - 50 um
• 测  试  精  度：±0.01nm @ 120 nm
• 光 谱 分辨率： 

                          - 0.5nm @ 633 nm （高分辨率模式） 

                          - <  0.8nm @ 633 nm （快速CCD模式） 

相关图片